Christoph Kokew
CIDEON EPLAN-Schnittstellen: ECAD-/MCAD-Daten bruchfrei managen
Wofür steht die Schnittstelle CIDEON Vault Professional Integration for EPLAN?
Ein durchgängiges Engineering verlangt nach einer einheitlichen und transparenten Datenhaltung. Idealerweise berücksichtigt diese dabei auch sämtliche Prozessketten innerhalb der Wertschöpfungskette. CIDEON Vault Professional Integration for EPLAN setzt hier an. Die CIDEON Schnittstelle verbindet das PDM System Autodesk Vault mit EPLAN Electric P8. Damit wird die ganzheitliche Verwaltung von EPLAN- und Mechanik-Daten (CAD) Projektdaten ermöglicht. Die Disziplinen Elektrotechnik, Fluidtechnik und mechanisches Engineering werden so miteinander „barrierefrei“ vereint und schaffen zusätzlich einen transparenten Blick auf ihre Projekte.
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Was sind die Vorteile der CIDEON Schnittstelle EPLAN-Vault?
Die Herausforderungen beim Stücklistentransfer sind vielfältig: Datenbrüche, veraltete Prozessstrukturen und -Zeiten sind nur einige Beispiele und implizieren ein hohes Fehlerpotential. Die CIDEON Vault Professional Integration for EPLAN ermöglicht die komplette und automatisierte Abwicklung über das PDM-System Autodesk Vault. Die in EPLAN angelegten Artikel mit den bidirektional synchronisierten Metadaten werden in Vault Professional dargestellt. Alle Artikelinformationen, etwa Artikelnummer, Lieferant, Hersteller sowie Stücklisteninformationen stehen stets abteilungsübergreifend bereit.
EPLAN Artikel und Stücklisten in Vault Professional und das Kontext-Funktionsmenü.
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Welche Vorteile ergeben sich für das Artikel- und Stücklistenmanagement?
Mit der CIDEON Schnittstelle Vault Professional Integration for EPLAN ist ein automatisiertes Artikel- und Stücklistenmanagement möglich. Die Steuerung der Stücklistenverwaltung beinhaltet Zugriffsmöglichkeiten in das bestehende ERP-System, einkaufsrelevante Daten können somit gezielt genutzt werden. Das Ergebnis: Kürzere Durchlaufzeiten, weniger Dubletten und eine deutlich verringerte Gefahr von Falscheingaben.
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Daniel Pasing, Customer Success
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